垂直探针可以对应高密度信号触点的待测半导体产品的细间距排列,针尖接触待测半导体产品所需的纵向位移可以通过针体本身的弹性变形来提供。悬臂探针为探针部提供适当的纵向位移,用于通过横向悬臂接触待测半导体产品,以避免探针部对待测半导体产品施加过大的针压。
探针的要求
(1)质量问题:在使用过程中应定期进行质量检查。探针的质量差会导致测量误差增大,严重时可能会损坏实验设备。
(2)加工工艺问题:在探针的制作过程中,要探针的形状、尺寸的与稳定。
(3)使用注意事项:避免在测量过程中引入空气,勿使用有陷进、连续的探针以免扰动测量,对于使用多个探针进行测量的情况要确保探针之间的长度和间距足够。
(4)存储和保养问题:尽可能地存储环境无除尘、避光性好;探针表面不能有刮伤等损坏,使用前应清洗干净且消毒处理。
物理处理主要包括粉碎和筛分。,废料被送入粉碎机进行粉碎,使其变为较小的颗粒。然后,颗粒通过筛网进行分级,分离出不同粒度的废料。